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樹木年輪元素分析儀Scanning XRF簡介

   樹木年輪元素分析儀是一款的測量分析設備，在上同時采用了XRF和X-射線成像技術，可用于木材、湖海沉積物、堆積物、泥炭等樣品的濃度和元素分析。可測量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中許多可測至痕量水平以下，對靈敏度和分辨率要求較高的研究尤其適合。

樹木年輪元素分析儀Scanning XRF系統特點：

◎ 結合了X-射線成像與XRF元素分析

◎ 可得高精度的樣品密度圖像和元素曲線

◎ 利用XRF分實現多種元素的分析

◎ 可分析不同類型、形狀、尺寸和厚度的樣品，可以是樹木生長錐取下的樹木樣品，也可是片狀、塊狀樣品或圓形沉積物樣品等，不需要對樣品做前期表面處理，樣品準備簡單

◎ 自動進行多樣品分析

◎ X-射線成像的信息以數字化方式儲存，結果可即時顯示。

系統組成：

X-射線發生器，標準LFF型X光顯像管，PolyflatTM 扁平X光束光學系統，X光束調節器，控制臺，樣品槽，X-射線檢測器，密度校準塑料楔，操作臺，平板掃描儀，冷卻裝置，計算機，軟件，用戶手冊

樹木年輪元素分析儀Scanning XRF技術指標：

1）測量原理：X-射線熒光分析和數字X-射線成像技術

2）X 射線發生器：60 kV，55 mA，較大功率3.3 kW

3）顯像管：一個標準的LFF型X光顯像管（Cr）。較大功率工作壽命2000h，功率降低壽命延長。當使用鉻管進行木材密度分析時，樣品厚度范圍為1~10mm，厚度較厚的樣品(較厚50 mm )，通常選擇Mo管，這需要另一種類型的X-射線成像感應器。

4）光學系統：PolyflatTM技術，PolyflatTM 扁平X光束光學系統，用于局部區域的快速測量，測量點面積為50微米×20厘米， X-射線圖像的分辨率達10x20微米，寬15~20mm（根據軟件設置），通過軟件組合片段圖片可得到寬度大于20mm的圖像。使用這種光束的XRF，水平方向的分辨率為50微米，垂直方向的分辨率為2mm。

5）X光束調節器：X光束調節器可使X-射線圖像在水平方向的分辨率達10微米

6）控制臺：一個300x200mm X/Y可移動電腦控制臺，掃描點長2.5微米，重現性好

7）樣品槽：較多放9個長280mm，寬7~12mm的木條樣品。樣品槽可拿出。其他類型的樣品槽根據需要可訂購。

8）X-射線檢測器：線性排列感應元件，其測量所得圖像的格式為16 bits。包含控制、操作及數據采集所需的硬件和軟件。適于厚度不較過15mm木材類樣品的測量。

9）密度校準塑料楔：用于密度校準，位于樣品固定槽上方。

10）操作臺：780×800×1600mm（長×寬×高），用于放置上面提到的所有原件。測量區用一塊透明板遮擋，用于防塵，防X-射線泄露。操作臺內置有效控制系統，打開瞬間，X-射線會自動關閉。

11）掃描儀：一個平板掃描儀，用于測量前，條形樣品槽內樣品的掃描。

12）冷卻裝置：冷卻水泵

13）電源：建議配置UPS

14）重量：250kg